前几期，我们介绍了我司代理的日本东京精密、大阪精密的产品和相关知识。本期我们带大家了解一下日本堀场HORIBA的SZ-100V2系列纳米颗粒分析仪。

株式会社堀场制作所 (HORIBA, Ltd.)创立于1953年，自成立以来，堀场制作所已经成长为一个主要的分析检测仪器和设备制造商，并且以其高精尖的产品成功地将市场拓展到了全球各个国家和地区。堀场的产品几乎应用于所有的工业领域企业中的产品研发和质量控制，包括汽车、半导体、新材料、能源、冶金、食品加工以及科学研究等领域。

日本堀场HORIBA SZ-100V2系列纳米颗粒分析仪在生物制药（药物输送系统、诊断学、蛋白质表征、DNA基因治疗、疫苗、多聚物）、纳米技术（量子、纳米银、纳米金刚石）、涂料（颜料分散/油漆、炭黑分散、打印机喷墨配方、聚合物）、化工（陶瓷、表面活性剂、聚合物体系、硅溶胶、微乳）等多个领域都有广泛的应用。

SZ-100V2系列纳米颗粒分析仪机型体积简洁小巧，拥有超高的智能化和学习能力，可以快速对纳米颗粒进行多参数分析，确定纳米粒子的特性。同时实现对纳米粒子三项参数的表征：粒径，Zeta电位和分子量。

● 粒径测量（范围 0.3nm ~ 10μm）

SZ-100V2 系列采用动态光散射原理(DLS) 测量粒径大小及分布，实现了超宽浓度范围的样品测量，不论浓度是ppm 级还是高达百分之几十，均可准确测量。可使用市售样品池。测量微量样品也极为方便。

● Zeta 电位测量( 范围−500 ~+500mV)

使用HORIBA 独特的微量样品池，样品量仅需100 μL。通过Zeta 电位值可以预测及控制分散体系的稳定性。

Zeta 电位越高意味着分散体系越稳定，对于配方研究工作意义重大。

● 分子量测量（范围 1×103 ~ 2×107）

通过测量不同浓度样品的静态散射强度并通过德拜记点法计算绝对分子质量(Mw) 和第二维利系数(A2)。

不同于其他品牌，HORIBA SZ-100V2系列纳米颗粒分析仪有以下优势：

● 可测量的样品浓度范围很广，所以几乎无需对样品进行稀释和其他处理。独特的双光路系统(90°和173° ) 设计，既能对高浓度样品进行测量，如釉浆和颜料，也能测量低浓度样品，如蛋白质和聚合物。

● 将表征纳米粒子的三大参数的测量融于一体：粒子直径、Zeta 电位和分子量。

● HORIBA 开发的一次性Zeta 电位测量样品池可杜绝样品污染。专用超微量样品池( 最小容量100 μL) 简单易用，且适合分析稀释的样品。

● HORIBA 研发的Zeta 电位专用石墨电极，可用于测量强腐蚀性的高盐样品。

对于使用者最关心的操作问题，SZ-100V2也给出了很好的表现：该机型操作简单，使用者只需选择测量模式 ( 粒径、Zeta 电位或者分子量 )，测量界面出现后放进样品即可开始测量。

主流机型介绍

日本堀场HORIBA的SZ-100V2系列机型组合配置丰富，本篇列举SZ-100-S和SZ-100-Z这两个机型部分参数供大家参考。

SZ-100-S可测量粒径测量和分子量，SZ-100-Z粒径和分子量测量参数与SZ-100-S一致，增加了zeta电位测量单元。

关于日本堀场HORIBA SZ-100V2系列纳米颗粒分析仪的简要介绍就告一段落。如果您感兴趣，欢迎和我们做进一步的交流。联系电话：0755-23998630

下一期，我们将介绍HORIBA的另一款产品：激光粒度分析仪LA-960V2。期待您的持续关注。